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Von Handaufmass bis High Tech II mit CD, Band 2

   von Katja Heine, Frank Henze, Alexandra Riedel

buch.de-Verkaufsrang:
ISBN-10:
3-8053-3754-X
ISBN-13:
978-3-8053-3754-0
Erschienen:
01.2007
Ladenpreis aufgehoben, führen wir nicht mehr.
Einband:
gebunden
Sonstiges:
VII, z. Tl. farbige Abbildungen 30,5 cm
Seitenzahl:
264
Gewicht:
1390 g
Erschienen bei:
Philipp von Zabern
Herausgeber: Katja Heine Herausgeber: Frank Henze Herausgeber: Alexandra Riedel

Kurzbeschreibung

Hightech im Dienste der Archäologie, Bauforschung und Denkmalpflege Neue Vermessungs- und Modellierungsverfahren machen es möglich: Komplexe Großanlagen können wissenschaftlich untersucht, bearbeitet und präsentiert werden. »Von Handaufmaß bis Hightech« umreißt die ganze Spannweite der Möglichkeiten, die immense Datenflut dieser neuen Methoden zu verarbeiten. Namhafte Wissenschaftler aus den Bereichen Bauforschung, Vermessung und Informatik stellen neue Entwicklungen auf dem Gebiet der Bauwerksvermessung und Datenmodellierung vor, und diskutieren die Anforderungen an Informationssysteme. Anhand prägnanter Beispiele, die u.a. nach Ephesos, Baalbek, Milet, Rom oder Florenz führen, werden die Möglichkeiten dieser neuen Technologien vorgestellt.



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